[发明专利]一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法

摘要

本发明提供一种应用曲线模拟和核辐射原理测量物位的方法，涉及容器中物料的物位测量领域，所述方法包括步骤S1：获取基准物料的辐射量Im与基准物料体积v的关系；S2：获取被测物料体积V与基准物料体积v的关系；S3：获取容器内被测物料体积V与物料高度h的关系；S4：获取基准物料的辐射量差值ΔIt与基准物料温度差值Δt的关系；S5：获取最终辐射量I与辐射量Im、辐射量差值ΔIt的关系，并且对最终辐射量I进行环境辐射校正；S6：基于S1～S5获取不同基准物料温度差值Δt的条件下，最终辐射量I与被测物料高度h的关系。本发明解决了现有方法对容器中物料的物位测量存在的辐射危害、测量不准确等缺陷。