[发明专利]残影测试方法和残影测试装置有效
| 申请号： | 202010213705.7 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111341232B | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 赵东方;杜哲;郭双;刘勋;郭子栋 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京远智汇知识产权代理有限公司 11659 | 代理人： | 范坤坤 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种残影测试方法和残影测试装置。所述方法包括：在阵列基板中预设驱动晶体管的电压由第一预设电压切换至第二预设电压后的预设时间内，获取预设驱动晶体管的源漏电流与时间的第一对应关系；在预设驱动晶体管的电压由第三预设电压切换至第二预设电压后的预设时间内，获取预设驱动晶体管的源漏电流与时间的第二对应关系；根据第一对应关系、第二对应关系及残影评价公式获取阵列基板的第一残影测试曲线，第一残影测试曲线为时间与残影评价值的对应关系。本发明实施例能够减少流片周期，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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