[发明专利]测试项校验方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

摘要

本申请涉及测试项校验方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，所述方法包括获取与第一测试设备相对应的第一测试项以及对应的第一测试项结果，其中，所述第一测试项结果是所述第一测试设备按照所述第一测试项对待测设备进行测试得到的；校验所述第一测试项对应的所述第一测试项结果，得到第一校验结果；当所述第一校验结果不满足第一预设条件时，确定所述待测设备未通过测试，以使所述待测设备无法出站，其中，所述第一预设条件包括所述第一测试项结果的数量满足第一预设数量、所述第一测试项结果为标准测试结果中至少一种。采用本申请的方法能够避免设备出货后因存在漏洞而无法正常使用。