[发明专利]一种层状正极材料结构稳定性的分析方法在审
| 申请号： | 202010178613.X | 申请日： | 2020-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN111243686A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 赵煜娟;肖湘;韩颖倩;候辰 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G16C60/00 | 分类号： | G16C60/00;G16C10/00;G16C20/20 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种层状正极材料结构稳定性的分析方法属于材料学(物理化学)领域。本发明包括构建用于分析层状正极材料结构稳定性的第一性原理模型，通过采用基于密度泛函理论(DFT)的第一性原理对层状材料的结构进行优化，根据优化后材料的过渡金属‑氧八面体与锂‑氧八面体的键参数与角度参数，计算获得八面体的畸变程度，从而判断材料的结构稳定性。从原子尺度出发，为富锂正极材料的开发和改性提供理论基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 层状 正极 材料 结构 稳定性 分析 方法 | ||
【主权项】：
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