[发明专利]一种NVME硬盘测试治具及测试方法在审
| 申请号： | 202010154807.6 | 申请日： | 2020-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN111462809A | 公开（公告）日： | 2020-07-28 |
| 发明（设计）人： | 孙一心 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人： | 黄晓燕 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及硬盘测试技术领域，提供一种NVME硬盘测试治具及测试方法，NVME硬盘测试治具包括现场可编程门阵列、内存、硬盘接口、电源插槽和若干个LED；现场可编程门阵列，与所述内存、硬盘接口以及若干个所述LED连接，用于当识别到所述硬盘接口插入的待测NVME硬盘时，结合所述内存执行对所述待测NVME硬盘的测试项，并通过若干个所述LED分别显示对应测试项的测试结果，从而提供一种专门的NVME硬盘的测试治具，提高NVME硬盘的测试效率，提高生产效率和生产直通率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nvme 硬盘 测试 方法 | ||
【主权项】：
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