[发明专利]表面分析装置有效
申请号: | 202010134192.0 | 申请日: | 2020-03-02 |
公开(公告)号: | CN111796122B | 公开(公告)日: | 2023-09-29 |
发明(设计)人: | 藤野敬太 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01Q60/00 | 分类号: | G01Q60/00;G01Q30/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种表面分析装置。驱动机构(45)以测量部(20)与试样台(30)的相对位置关系在第1位置关系与第2位置关系之间切换的方式使测量部(20)和试样台(30)相对性地位移。在第2位置关系时,试样台(30)自下部壳体的内部暴露于外侧。控制装置(201)包含生成向扫描器(32)供给的高电压的高电压生成电路(203)。在第2位置关系时,第1机械式开关(253)不使电源(202)的电压向高电压生成电路(203)供给。 | ||
搜索关键词: | 表面 分析 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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