[发明专利]基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法有效
| 申请号： | 202010123464.7 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111351578B | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 刘战伟;封伟;赵家业;郝策;谢惠民;刘胜 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G06T7/80;G06T7/90;G06F17/16 |
| 代理公司： | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人： | 于淼 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于像素化双波段窄带滤光片阵列的温度测量系统及方法，涉及红外光测力学技术领域，温度测量系统包括双波段阵列图像采集装置和计算装置；在标定阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取高温标定装置标定区的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于获取矫正参数矩阵和系统响应参数矩阵；在测量阶段，双波段阵列图像采集装置用于获取待测物的双波段辐射光的灰度阵列图像，计算装置用于对待测物灰度阵列图像进行修正和数据提取，以及计算待测物的温度场。本发明首次在温度测量系统和温度测量方法中消除了各个滤波单元的质量差异、镜头畸变、色差、滤波单元与像元的集成误差等带来的共同影响，提高了测温系统及方法的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 像素 波段 窄带 滤光 阵列 温度 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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