[发明专利]电子级多晶硅筛分装置和方法在审

专利信息
申请号: 202010120897.7 申请日: 2020-02-26
公开(公告)号: CN111359869A 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 吴锋;于跃;李春松;高召帅;厉忠海 申请(专利权)人: 江苏鑫华半导体材料科技有限公司
主分类号: B07B1/28 分类号: B07B1/28;B07B1/46;B07B1/42;B08B7/02;B08B13/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 肖阳
地址: 221004 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了电子级多晶硅筛分装置。该装置包括:第一筛分层至第四筛分层。采用本发明的电子级多晶硅筛分装置对硅块进行筛分,待筛分硅块通过硅块入口首先进入装置,然后依次经过第一至第四筛分层进行多级筛分,每级筛分过程中,通过各级筛板振动使粘附在硅块表面的硅粉与硅块分离,并通过惰性气体进气管路和各惰性气体进气口配合工作,将分离的硅粉从各硅粉出口排出。进一步地,经过多级筛分的硅块落入沉积板进行收集,第四筛分层中分离的硅粉可进入硅粉回收箱进行收集。由此,该电子级多晶硅筛分装置可以有效筛分去除硅块表面粘附的粉筛,工作效率高,筛分产品粒径分布在规格尺寸的中位径附近较为集中,离散度较低。
搜索关键词: 电子 多晶 筛分 装置 方法
【主权项】:
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