[发明专利]试样测定装置及试样测定方法在审
| 申请号： | 202010108561.9 | 申请日： | 2020-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN111610169A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木一浩;山本毅 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种关于试样测定装置的光学单元，能够进一步提高组装容易度和维护性的试样测定装置及试样测定方法。试样测定装置（10）具备：照射部（100），其向试样照射照射光，并使得从试样中的粒子产生光；光学模块（200），其固定有多个棱镜（210、220、230、240、250、260、270），该多个棱镜（210、220、230、240、250、260、270）具有供从试样中的粒子产生的光入射的入射面、选择性地反射入射至入射面的光的一部分的反射面（201～206）以及出射由反射面（201～206）反射的光的出射面（212、222、232、242、252、262）；光接收部（300），其接收从多个棱镜（210、220、230、240、250、260、270）的出射面（212、222、232、242、252、262）出射的光。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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