[发明专利]测量方法和系统有效

专利信息
申请号: 202010084272.X 申请日: 2020-02-10
公开(公告)号: CN111340957B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 易京亚;赵天光;温志庆 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: G06T17/20 分类号: G06T17/20;G06T9/00;G06F7/58
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 528200 广东省佛山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例提供了一种测量方法和系统。所述测量方法包括:采用标准编码图像照射目标物体,所述标准编码图像由对应于伪随机数字矩阵的箭矢符号集编码,所述伪随机数字矩阵的基元数为所述箭矢符号集中的箭矢符号的种类数,多种箭矢符号分别在同一平面上指向所述基元数个不同方向;通过所述目标物体的反射,采集所述标准编码图像的变形编码图像;利用所述伪随机数字矩阵对所述变形编码图像进行解码,以确定所述目标物体的三维特征,其中,通过在所述编码图像中对以具有特定尺寸的窗口进行平移来依次解码。本发明实施例具有更高的鲁棒性,并且进一步提高了解码的准确性。
搜索关键词: 测量方法 系统
【主权项】:
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