[发明专利]一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法有效
| 申请号： | 202010064074.7 | 申请日： | 2020-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN111308328B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 唐维;钱飞 | 申请（专利权）人： | 杭州仁牧科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人： | 沈相权 |
| 地址： | 311251 浙江省杭州市萧山区萧山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低频数字电路综合测试系统及其测试方法，包括测试交互单元、数据处理系统、被测板测试单元和标准板测试单元，数据处理系统分别与测试交互单元、被测板测试单元和标准板测试单元实现双向电性连接，数据处理系统通过光纤网络或4G无线网络与联网大数据库实现双向连接，本发明涉及电路测试系统技术领域。该低频数字电路综合测试系统及其测试方法，可实现对大批量和大测试容量的电路板测试时，仍然能够快速进行数据处理，大大提高了测试效率，测试误差小，保证了测试结果的准确度，同时大大缩短了数据分析时间，提高了数据处理效率，无需测试人员花费大量时间进行等待，从而大大方便了测试人员的数据处理工作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低频 数字电路 综合测试 系统 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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