[发明专利]一种辅助集成电路近场扫描仪精准定位的装置与方法有效

专利信息
申请号: 202010050533.6 申请日: 2020-01-17
公开(公告)号: CN111077437B 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 吴建飞;张红丽;郑亦菲;李雅菲;李宏;吴健煜;王宏义;郑黎明;刘培国 申请(专利权)人: 天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R29/08
代理公司: 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 代理人: 徐志宏
地址: 300450 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及集成电路检测技术领域,公开一种辅助集成电路近场扫描仪精准定位的装置与方法,以提高定位的精度和操作的便利性。本发明装置包括位于被测集成电路正上方的探头、对所述探头进行位移调度的计算机及配套的三维移动平台,以及还包括三棱镜和显微镜;所述三棱镜为等腰直角三棱镜,斜面为反射镜面、且底面与被测集成电路位于同一水平面;所述显微镜位于被测试集成电路的正上方,用于观察探头与原点的位置关系,通过移动X轴和Y轴,使得探头与原点在XY平面投影重合,以对探头在X、Y轴进行精准定位,以及还用于接收所述三棱镜的反射光以观测、调整、定位并放大所述探头与被测集成电路之间的垂直距离。
搜索关键词: 一种 辅助 集成电路 近场 扫描仪 精准 定位 装置 方法
【主权项】:
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