[发明专利]使用同质测试模式的传感器对准有效
| 申请号： | 202010021700.4 | 申请日： | 2020-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN111426264B | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | J·詹希特;H·科克 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/30 | 分类号： | G01B7/30 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 黄倩 |
| 地址： | 德国诺伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及使用同质测试模式的传感器对准。对准设备可以获取一组模数转换器(ADC)信号，其由以同质测试模式操作的角度传感器提供。该一组ADC信号可以与目标磁体相对于角度传感器的旋转相关联。对准设备可以基于该一组ADC信号来标识最大ADC信号值。该对准设备可以由该对准设备基于最大ADC信号值，选择性地定位，由角度传感器或目标磁体中的至少一项。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 同质 测试 模式 传感器 对准 | ||
【主权项】：
暂无信息
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