[发明专利]一种用于产生快速扫描光学相位延迟线的方法及装置在审
申请号: | 202010019291.4 | 申请日: | 2020-01-08 |
公开(公告)号: | CN111184502A | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 尉佩;陈文光;郭丁华 | 申请(专利权)人: | 上海美沃精密仪器股份有限公司 |
主分类号: | A61B3/10 | 分类号: | A61B3/10 |
代理公司: | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人: | 谢绪宁;薛赟 |
地址: | 201100 上海市闵行区*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种产生快速扫描光学相位延迟线的方法和装置,装置包括圆盘、至少一个平行反射镜组、圆盘驱动装置、发射光源、外部反射镜,至少一个平行反射镜组均匀固定分布在圆盘的同一圆环上,每个平行反射镜组中的第二反射镜与其圆周处的切线间的夹角小于90度;圆盘驱动装置用于以一定角速度驱动圆盘旋转;发射光源位于圆盘外部,发射光源距离圆盘圆心的水平距离小于第二反射镜的端点到圆心的距离;外部反射镜位于以圆盘直径为轴线的与发射光源相对一侧。本申请中光信号在空气中进行反射,避免了折射引起的光色散,提高了系统的信噪比和测量精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 产生 快速 扫描 光学 相位 延迟线 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海美沃精密仪器股份有限公司,未经上海美沃精密仪器股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010019291.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。