[发明专利]用于光学表征纺织品样品的设备和方法在审

专利信息
申请号: 201980100744.1 申请日: 2019-11-06
公开(公告)号: CN114467018A 公开(公告)日: 2022-05-10
发明(设计)人: 佩曼·H·德库尔迪;K·A·赖恩哈特;大卫·麦卡利斯特 申请(专利权)人: 乌斯特技术股份公司
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/3563;G01N21/55;G01N21/64;G01N21/84;G01N21/88;G01N21/898;G01N33/36
代理公司: 上海德禾翰通律师事务所 31319 代理人: 毛海燕
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于光学表征纺织品样品(106)的装置(100)包括展示子系统(102),所述展示子系统包括观察窗(108)。辐射子系统(114)包括辐射源(120),用于将第一,紫外辐射(122)和第二,可见辐射(123)引导向样品(106),并使样品(106)产生荧光辐射(124)和反射辐射(125)。感测子系统(126)包括用于捕获在像素阵列(408)中的荧光辐射(124)和反射辐射(125)的成像器(130)。控制子系统(132)包括用于控制展示子系统(102),辐射子系统(114)和感测子系统(126)的处理器(136),并且用于创建包含关于荧光辐射(124)和反射辐射(125)的光谱信息和空间信息的荧光的和反射的辐射图像(400)。
搜索关键词: 用于 光学 表征 纺织品 样品 设备 方法
【主权项】:
暂无信息
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