[发明专利]光检测装置和光检测装置的制造方法在审
| 申请号： | 201980081954.0 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113167642A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 园部弘典 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/44;H01L31/107 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦;黄浩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 光检测装置(1)包括半导体基板(10)。在半导体基板(10)中，在从与主面(10a)正交的方向观察时，APD(11)和温度补偿用二极管(12)彼此隔开间隔地形成。半导体基板(10)在从与主面(10a)正交的方向观察时，在APD(11)与温度补偿用二极管(12)之间具有吸收位于周边的载流子的周边载流子吸收部(13)。在从与主面(10a)正交的方向观察时，在以最短距离连结APD(11)与温度补偿用二极管(12)之间的线段上，APD(11)与周边载流子吸收部(13)之间的最短距离比周边载流子吸收部(13)的边缘(13a、13b)中距APD(11)最近的部分(13c)与温度补偿用二极管(12)之间的最短距离小。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 制造 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社，未经浜松光子学株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980081954.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：光检测装置
- 下一篇：由喷墨印刷粘合剂而制造的可剥离制品
