[发明专利]用于表征表面均匀度的方法和系统在审
申请号: | 201980070830.2 | 申请日: | 2019-11-13 |
公开(公告)号: | CN112912717A | 公开(公告)日: | 2021-06-04 |
发明(设计)人: | 弗朗西斯·T·卡鲁索;杰佛瑞·K·伊莱亚森;戴维·L·霍费尔特;约瑟夫·E·赫尔南德斯;乔舒亚·A·格利克森 | 申请(专利权)人: | 3M创新有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/95;G01N21/88;G01N21/956;G06T7/00;G06T7/42 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;盛博 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了一种方法,该方法包括将光从光源(12)发射到至少部分反射的表面(24)上。在屏幕(32)处从表面收集反射光(13),以利用相机(40)在第一图像(42)中捕获反射光的强度分布(34)。通过对反射光的强度分布的傅里叶变换执行合适的滤波来处理(50)反射光的第一图像的强度分布,以便强调具有感兴趣的强度变化的特征。分析该反射光的该强度分布的具有该感兴趣的变化的特征以确定该表面的均匀度值。 | ||
搜索关键词: | 用于 表征 表面 均匀 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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