[发明专利]颗粒分析仪的表征和分选在审
| 申请号： | 201980033012.5 | 申请日： | 2019-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN112154317A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 约瑟夫·特罗特;巴克利·珀塞尔 | 申请（专利权）人： | 贝克顿·迪金森公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N15/14;G01N21/64;G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文提供的方法的一些实施例涉及样品分析和颗粒表征方法。一些此等实施例包括从颗粒分析仪接收有关第一部分实验相关颗粒的测量值。一些实施例还包括至少部分基于所述测量值来生成表示相关颗粒组的树，其中所述树包括至少三个分组。一些实施例还包括至少部分基于所述测量值来生成所述树的第一分组与第二分组之间的相关性度量。一些实施例还包括将颗粒分析仪配置成将实验相关后续颗粒实时归类为所述第一分组，其中所述后续颗粒未包括在所述第一部分颗粒内。一些实施例还包括对所述后续颗粒进行分选。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 分析 表征 分选 | ||
【主权项】：
暂无信息
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