[实用新型]一种用于电子设备的老化测试装置有效
| 申请号： | 201922348343.8 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN211603389U | 公开（公告）日： | 2020-09-29 |
| 发明（设计）人： | 范彩凤 | 申请（专利权）人： | 上海北臻电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 范海燕 |
| 地址： | 201501 上海市金山*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括承载座，承载座上端连接有一对围板，且一对围板之间连接有多个隔板，隔板内侧设有固定板，承载座侧端开凿有多个与固定板相对应的螺孔，且螺孔中连接有长推进螺杆，长推进螺杆上连接有推进螺母，承载座内部开凿有与推进螺母相匹配的滑孔，推进螺母上端连接有滑块，承载座上开凿有与滑块相匹配的滑孔，且滑孔与推进腔相连通，长推进螺杆上固定连接有轴承，且轴承的外壁与螺孔固定连接，长推进螺杆位于推进腔内侧的端部连接有限位块，且限位块的直径大于推进螺母的孔径。本实用新型结构简单，操作方便，可有效防止待测试电子元件的晃动，提高测试准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子设备 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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