[实用新型]用于对形成在待测物上的第一条纹检测的测量机构有效

专利信息
申请号: 201922018656.7 申请日: 2019-11-21
公开(公告)号: CN211978708U 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 贾若愚;梁健;王金正;张馨心 申请(专利权)人: 梁健;贾若愚
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01B11/30
代理公司: 苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32366 代理人: 周子轶
地址: 100083 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于对形成在待测物上的第一条纹检测的测量机构,包括第二摩尔纹部件,所述第二摩尔纹部件具有与第一条纹不同的第二条纹,承载部件,所述承载部件包括用于承载所述待测物的第一承载部和用于承载所述第二摩尔纹部件的第二承载部,所述第二承载部能与所述第一承载部层叠设置,从而形成第一摩尔纹;所述第二承载部与所述第一承载部呈锐角设置,从而形成第二摩尔纹;检测部件,所述检测部件能分别获取第一摩尔纹和第二摩尔纹。本实用新型至少包括以下优点:通过调整第一条纹和第二条纹之间不同的角度和形状的,进而获得所需的第一摩尔纹和第二摩尔纹,应用性好,且快速便捷。
搜索关键词: 用于 形成 待测物上 第一 条纹 检测 测量 机构
【主权项】:
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