[实用新型]低矮植被冠层多角度光谱及结构参数测量辅助装置有效

专利信息
申请号: 201921528235.2 申请日: 2019-09-16
公开(公告)号: CN210604359U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 李微;宋鑫;肖忠岩;周瑞琴;高天一;臧国荣;吴韬;赵健顺 申请(专利权)人: 大连海洋大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01C11/00
代理公司: 北京卓特专利代理事务所(普通合伙) 11572 代理人: 段宇
地址: 116023 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种低矮植被冠层多角度光谱及结构参数测量辅助装置,包括框体、安装在框体的容器、与框体连接的支撑架;容器种植测量目标植被且安装有筒体以容置植被冠层结构分析仪镜头而测量目标植被冠层信息;支撑架的横梁端部配装输出端朝下的第一减速器,第一减速器的输出端连接第二减速器,第二减速器的输出端与第一减速器的输出端垂直,第二减速器的输出端配装机械臂,机械臂滑动连接滑块,滑块安装地物光谱仪测量探头,第一减速器和第二减速器间接驱动地物光谱仪测量探头水平转动及竖直摆动,第一减速器和第二减速器均装刻度盘。测量辅助装置将地物光谱仪和植被冠层结构分析仪相结合,实现了多角度测量,解决了分析仪镜头放置问题。
搜索关键词: 低矮 植被 冠层多 角度 光谱 结构 参数 测量 辅助 装置
【主权项】:
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