[实用新型]基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统有效
| 申请号： | 201921515908.0 | 申请日： | 2019-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN210007708U | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 夏冬雪 | 申请（专利权）人： | 深圳市蓉声科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12;G01R29/10 |
| 代理公司： | 11255 北京市商泰律师事务所 | 代理人： | 麻吉凤 |
| 地址： | 518033 广东省深圳市福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，包括反射面、馈源、相控阵天线、切换开关、网络分析仪和控制器。其中，馈源设置于反射面曲面焦点位置；相控阵天线包括基板，基板上设置有多个呈阵列排布的振子；切换开关与每一振子电连接；网络分析仪与馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过切换开关与振子接收的信号；控制器与切换开关电连接，用于控制切换开关与每一振子的通断；并且，控制器还与网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过切换开关和振子的接收信号，对测试信号与接收信号比对，获得相位差和幅度差。本实用新型提高了相控阵天线的测试效率，并减小了测试误差，且安装方便。 | ||
| 搜索关键词： | 切换开关 振子 相控阵天线 电连接 网络分析仪 控制器 馈源 本实用新型 输出测试 基板 控制切换开关 反射面曲面 安装方便 测试误差 测试效率 测试信号 焦点位置 控制网络 校准系统 信号比对 阵列排布 反射面 分析仪 幅度差 紧缩场 相位差 减小 通断 测试 | ||
【主权项】：
1.一种基于紧缩场的相控阵天线测试校准系统，其特征在于，包括：/n反射面；/n馈源，设置于所述反射面曲面焦点位置；/n相控阵天线，设置于紧缩场的静区内，包括基板，所述基板上设置有多个呈阵列排布的振子；/n切换开关，与每一振子电连接，用于切换每一所述振子的通断；/n网络分析仪，与所述馈源电连接，用于输出测试信号，并接收通过所述切换开关与所述振子接收的信号；/n控制器，与所述切换开关电连接，用于控制所述切换开关与每一所述振子的通断；并且，所述控制器还与所述网络分析仪电连接，用于控制网络分析仪输出测试信号，以及接收通过所述切换开关和所述振子的接收信号，对所述测试信号与所述接收信号比对，获得相位差和幅度差。/n
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