[实用新型]一种光学材质测试箱有效
申请号: | 201921472066.5 | 申请日: | 2019-09-05 |
公开(公告)号: | CN210604352U | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 周开松 | 申请(专利权)人: | 沂普光电(天津)有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;B08B3/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300000 天津市西青区开发*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种光学材质测试箱,包含超声波发生器,还包含位于所述超声波发生器一侧的容器箱,且所述超声波发生器部分位于所所述容器箱内,所述超声波发生器用于将所述容器箱内的光学晶体表面杂质进行清除,以确保光学晶体表面洁净,同现有技术相比,该结构方便折叠,便于携带。 | ||
搜索关键词: | 一种 光学 材质 测试 | ||
【主权项】:
暂无信息
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