[实用新型]微波器件测试用辅助保护装置有效

专利信息
申请号: 201921374392.2 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN210465579U 公开(公告)日: 2020-05-05
发明(设计)人: 杨林;蔡挺夫;陈远红;刘建国 申请(专利权)人: 成都中亚讯飞电子有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04;G01R1/02
代理公司: 成都顶峰专利事务所(普通合伙) 51224 代理人: 王霞
地址: 610000 四川省成都市青羊区青羊工业集*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及微波器件测试工具技术领域,具体涉及微波器件测试用辅助保护装置。包括固定底板、下夹持座和上夹持机构,所述下夹持座一体式设置于固定底板顶部,在下夹持座的顶部设有第一器件凹槽和紧固盲孔,第一器件凹槽的两侧设有端子槽,在上夹持机构的底部设有第二器件凹槽,第二器件凹槽的两侧设有压块,在上夹持机构内设有竖直贯穿上夹持机构的紧固通孔,在上夹持机构的底面除去第二器件凹槽、压块和紧固通孔以外的部位设有第一缓冲垫层,在第二器件凹槽的槽底设有第二缓冲垫层,上夹持机构盖合在下夹持座上。本实用新型可以使微波器件在测试过程中与微带线始终保持压紧状态,保证微波器件测试的稳定性、准确性和无损性。
搜索关键词: 微波 器件 测试 辅助 保护装置
【主权项】:
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