[实用新型]高低温探针台测试装置有效

专利信息
申请号: 201921061237.5 申请日: 2019-07-08
公开(公告)号: CN212932475U 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 肖钊;肖石;汪金文 申请(专利权)人: 上海同果智能科技有限公司;果果仪器科技(上海)有限公司
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01N27/26;G01K13/00;G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 黄德海
地址: 201805 上海市嘉定区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种高低温探针台测试装置,高低温探针台测试装置包括:底座、冷热台组件和多个探针组件。底座限定出盛放腔;底座设置有循环冷媒接口,冷热台组件设置于底座且对被测元件进行升温及降温,冷热台位于盛放腔内;多个探针组件设置于盛放腔。由此,通过底座、冷热台组件和多个探针组件配合,冷热台组件能够对被测元件升温和降温,可以为被测元件提供一个变化的热场,并且,多个探针组件可同时对多个被测元件的电学、电化学等参数进行检测,可以提升高低温探针台测试装置的检测效率,同时,高低温探针台测试装置可以与多种测试仪器连用,满足材料测试的不同测试条件,具有节能、多功能、微型化、快速升降温等优点。
搜索关键词: 低温 探针 测试 装置
【主权项】:
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