[实用新型]一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片有效
| 申请号： | 201920836854.1 | 申请日： | 2019-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN209659316U | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 王光春;曾为民;李向宏 | 申请（专利权）人： | 山东华翼微电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;G01R31/28;G06K19/077 |
| 代理公司： | 37105 济南诚智商标专利事务所有限公司 | 代理人： | 王汝银<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 250101 山东省济南市高新区新*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种非接触卡芯片测试装置及非接触卡芯片，该测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和接触式双向数字通信接口，通用数字测试机台与射频信号发生器连接，通用数字测试机台与接触式双向数字通信接口通信连接，射频信号发生器与射频接口通信连接。本申请的非接触卡芯片中包括射频接口和接触式双向数字通信接口，射频接口用于获取电源信号和时钟信号，接触式双向数字通信接口用于传输基带信号。通过本申请能够提高芯片测试效率，提高测试过程中的抗干扰能力以及降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 双向数字通信 接触式 射频信号发生器 非接触卡芯片 测试机台 射频接口 通用数字 测试装置 申请 传输基带信号 抗干扰能力 测试成本 测试过程 电源信号 接口通信 时钟信号 通信连接 芯片测试 | ||
【主权项】：
1.一种非接触卡芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置包括：通用数字测试机台、射频信号发生器和设置于非接触卡芯片上的接触式双向数字通信接口，所述通用数字测试机台与所述射频信号发生器连接，所述通用数字测试机台与所述非接触卡芯片的接触式双向数字通信接口通信连接，所述射频信号发生器与所述非接触卡芯片的射频接口通信连接。/n
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