[实用新型]一种直插式霍尔器件全性能测试装置有效
| 申请号： | 201920826897.1 | 申请日： | 2019-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN210270018U | 公开（公告）日： | 2020-04-07 |
| 发明（设计）人： | 张华辉;潘安;钱衍;马栋梁 | 申请（专利权）人： | 张家港恩达通讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 唐岩 |
| 地址： | 215614 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种直插式霍尔器件全性能测试装置，用于对直插式霍尔器件进行测试，包括可调磁场组件、温控高低温箱、测试电路组件、电流源及测试级万用表，所述电流源分别与所述可调磁场组件及测试电路组件连接，用于产生测试时所需磁场及待测霍尔器件测试所需的驱动，所述测试级万用表完成电器特性测量，所述待测霍尔器件安装在所述测试电路组件上，所述测试电路组件安装在所述温控高低温箱内。通过温控高低温箱对测试电路组件进行容纳，使得整体装置所占用的空间减少，有利于节省成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 直插式 霍尔 器件 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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