[实用新型]一种基于BIM的测绘放样装置有效
| 申请号： | 201920752117.3 | 申请日： | 2019-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN209877972U | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 葛成才;张迎秋;杨立辉;芮和平;夏文君;芮健;张婷 | 申请（专利权）人： | 马鞍山市雷铭网络科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01C9/06 |
| 代理公司： | 34102 蚌埠鼎力专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 王琪 |
| 地址： | 243000 安徽省马鞍山市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于BIM的测绘放样装置，涉及测绘技术领域。该基于BIM的测绘放样装置，包括底座，所述底座的顶部设置有支撑杆，所述支撑杆的顶端固定连接有测绘机构，所述测绘机构底部的两侧均设置有线圈块，所述支撑杆的背部通过螺栓固定连接有刻度盘，所述支撑杆的正表面固定连接有检测机构，所述检测机构的两侧均固定连接有水平杆，所述水平杆两侧的顶部均固定连接有与线圈块配合设置的永磁体。该基于BIM的测绘放样装置，通过检测机构的改良，以及线圈块、限制螺栓和刻度盘等部件的配合使用，使得测绘放样装置工作时可以很好的对当前测绘机构的水平程度进行监控，无需额外增加算法以及多次测绘操作对倾斜的角度进行补偿。 | ||
| 搜索关键词： | 放样装置 测绘 支撑杆 测绘机构 刻度盘 水平杆 底座 本实用新型 螺栓 测绘技术 顶部设置 螺栓固定 配合设置 永磁体 正表面 算法 改良 监控 | ||
【主权项】：
1.一种基于BIM的测绘放样装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的顶部设置有支撑杆(2)，所述支撑杆(2)的顶端固定连接有测绘机构(3)，所述测绘机构(3)底部的两侧均设置有线圈块(4)，所述支撑杆(2)的背部通过螺栓固定连接有刻度盘(5)，所述支撑杆(2)的正表面固定连接有检测机构(6)，所述检测机构(6)的两侧均固定连接有水平杆(7)，所述水平杆(7)两侧的顶部均固定连接有与线圈块(4)配合设置的永磁体(8)；/n所述检测机构(6)包括检测外壳(63)，所述检测外壳(63)上贯穿设置有定位杆(65)，所述定位杆(65)与支撑杆(2)固定连接，所述定位杆(65)的表面套设有检测电阻(61)，所述检测电阻(61)上镶嵌有绝缘块(64)，所述检测外壳(63)内腔的顶部固定连接有电刷(66)，所述电刷(66)与绝缘块(64)的表面接触，所述电刷(66)串联于检测电阻(61)的电路中。/n
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