[实用新型]晶片平整度测量仪有效
申请号: | 201920740468.2 | 申请日: | 2019-05-22 |
公开(公告)号: | CN209764061U | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 郑东;张强 | 申请(专利权)人: | 青岛鑫嘉星电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30 |
代理公司: | 37212 青岛发思特专利商标代理有限公司 | 代理人: | 巩同海 |
地址: | 266114 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型属于蓝宝石加工技术领域,具体的,涉及一种晶片平整度测量仪,包括伸缩式量表、支撑板和支架,所述支架至少为三个,所述支架贯穿支撑板与支撑板可拆卸连接,支架与支撑板的下侧形成有晶片放置区;所述晶片放置区内形成有安装孔,所述伸缩式量表贯穿所述安装孔并与支撑板可拆卸连接。本实用新型提出了一种晶片平整度测量仪,受环境因素影响较小,测量更加准确快捷,节省劳动力,提高生产效率。 | ||
搜索关键词: | 支撑板 支架 平整度测量仪 本实用新型 可拆卸连接 安装孔 伸缩式 量表 种晶 环境因素影响 加工技术领域 晶片放置区 晶片放置 生产效率 蓝宝石 贯穿 测量 | ||
【主权项】:
1.一种晶片平整度测量仪,包括伸缩式量表、支撑板和支架,其特征在于,所述支架至少为三个,所述支架贯穿支撑板与支撑板可拆卸连接,支架与支撑板的下侧形成有晶片放置区;/n所述晶片放置区内设置有安装孔,所述伸缩式量表贯穿所述安装孔并与支撑板可拆卸连接。/n
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