[实用新型]一种新型金相检测用通用接口基座有效

专利信息
申请号: 201920495849.9 申请日: 2019-04-12
公开(公告)号: CN210294082U 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 王曦;沈阳;王海帅 申请(专利权)人: 华电电力科学研究院有限公司
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01;G01N1/32
代理公司: 杭州天欣专利事务所(普通合伙) 33209 代理人: 冯新伟
地址: 310030 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种新型金相检测用通用接口基座,属于无损检验范畴,广泛应用于电力与能源领域。本实用新型包括双坐标移动平台,其结构特点在于:还包括可拆卸式支柱,所述双坐标移动平台包括基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层,所述基础层安装在可拆卸式支柱上,所述横向移动层安装在基础层上,所述纵向移动层安装在横向移动层上,所述平台层安装在纵向移动层上,所述基础层、横向移动层、纵向移动层和平台层上均设置有插销安装孔。其中可拆卸式立柱采用螺杆与双坐标移动平台连接,螺杆长度15mm,可拆卸式立柱的下部有一调节杆,转动调节杆可以调节立柱的高度,使双坐标移动平台的四脚与检测面平稳接触。
搜索关键词: 一种 新型 金相 检测 通用 接口 基座
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