[实用新型]一种用于测试芯片电性的氮气测试盒有效

专利信息
申请号: 201920121413.3 申请日: 2019-01-24
公开(公告)号: CN209590217U 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 汪良恩;黄亮 申请(专利权)人: 安徽安芯电子科技股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 陈国俊
地址: 247100 安徽省池州市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种用于测试芯片电性的氮气测试盒,涉及芯片电性测试领域,包括盒体,所述盒体为透明设置且不设置底面,盒体的侧面设置通孔,盒体顶部设置氮气进气管,所述氮气进气管与外部氮气柜连接,盒体内设置测试铜盘。本实用新型能够解决现有技术中对芯片进行电性测试时易产生打火现象导致芯片烧坏和测试失败的问题。
搜索关键词: 盒体 氮气 氮气进气管 测试芯片 测试盒 电性 本实用新型 测试 侧面设置 测试领域 打火现象 电性测试 盒体顶部 芯片电性 芯片烧坏 氮气柜 底面 通孔 铜盘 体内 芯片 透明 外部 失败
【主权项】:
1.一种用于测试芯片电性的氮气测试盒,其特征在于,包括盒体(1),所述盒体(1)为透明设置且不设置底面,盒体(1)的侧面设置通孔,盒体(1)顶部设置氮气进气管(6),所述氮气进气管(6)与外部氮气柜连接,盒体(1)内设置测试铜盘(7)。
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