[发明专利]一种TDI线列红外探测器成像性能测试方法在审
| 申请号： | 201911401614.X | 申请日： | 2019-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN111174918A | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 刘建东 | 申请（专利权）人： | 北京东宇宏达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/12 |
| 代理公司： | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人： | 张学府 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区昆*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种TDI线列红外探测器成像性能测试方法，具体包括以下步骤：S1、先将需要测试的红外探测器的基本参数进行登记，并将登记信息传送至存储器中进行保存，然后将红外探测器放置测试机台上准备进行成像性能测试；S2、启动测试机台上的性能测试设备，并将检测项目显示在装置上，本发明涉及红外线探测器技术领域。该TDI线列红外探测器成像性能测试方法，可实现对该红外探测器进行有效成像性能测试，且根据成像性能测试数据精确判断该红外探测器是否符合生产条件，同时使用的设备造价低廉，降低了经济成本，同时能够快速将测试数据传送至显示终端上供人员查看，为后续红外探测器的改进工作奠定了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tdi 红外探测器 成像 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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