[发明专利]基于多模干涉原理的高消光比粗波分复用/解复用器有效

专利信息
申请号: 201911350006.0 申请日: 2019-12-24
公开(公告)号: CN110941048B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 唐强;朱旭愿;梁松 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G02B6/28 分类号: G02B6/28;G02B6/293;H04J14/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种粗波分复用/解复用器,包括:衬底;二氧化硅氧化层,位于所述衬底上;体硅下波导层,位于所述二氧化硅氧化层上;氮化硅波导层,位于所述体硅下波导层上;体硅上波导层,位于所述氮化硅波导层上;其中,在体硅下波导层、氮化硅波导层和体硅上波导层三层材料上刻蚀形成多个多模干涉耦合器,包括1.31微米/1.55微米光波的复用/解复用单元、收集单元和滤波单元,所述收集单元的输入端与复用/解复用单元相连,所述滤波单元的输入端与复用/解复用单元的输出端相连。本发明的复用/解复用器可以在不同的位置形成重新汇聚的镜像点,从而实现在两束光波可以在不同的位置被分离并且收集,因此本发明的复用/解复用器的光信号串扰小,消光比高。
搜索关键词: 基于 干涉 原理 高消光 粗波分复用 解复用器
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201911350006.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top