[发明专利]光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法有效
| 申请号： | 201911309496.X | 申请日： | 2019-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN110936751B | 公开（公告）日： | 2021-04-27 |
| 发明（设计）人： | 刘萃;柯光明;叶蕾;王斌;董亚鲁;陈韦;杨素华;黄小义 | 申请（专利权）人： | 中国人民银行印制科学技术研究所;中国印钞造币总公司 |
| 主分类号： | B42D25/378 | 分类号： | B42D25/378;B42D25/387 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 方亮 |
| 地址： | 100070 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种光学防伪元件、光学防伪产品以及光学防伪元件检测方法，涉及光学防伪技术领域，光学防伪元件包括：基材、第一滤光层和发光层；发光层设置在基材和第一滤光层的上方，或者包含在基材内部，形成一体结构；第一滤光层设置在基材下表面或位于基材和发光层之间；第一滤光层允许具有检测波段的波长的第一光线通过；发光层在受到第一光线激发时，向发光层的上方发射出发射光；检测光源包括：光强高于特定值I的日光光源、白光光源、紫外光光源、蓝光光源等。本公开的元件、产品以及检测方法，可以利用多种常用的光源识别光学防伪元件的真伪，可方便借助周围的光源进行检测，提高了伪造门槛，安全性得到了提升。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 防伪 元件 产品 以及 检测 方法 | ||
【主权项】：
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