[发明专利]多接口开短路测试电路及装置在审

专利信息
申请号: 201911282717.9 申请日: 2019-12-13
公开(公告)号: CN110988738A 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 赖俊;唐梅花 申请(专利权)人: 华显光电技术(惠州)有限公司
主分类号: G01R31/52 分类号: G01R31/52;G01R31/54;G01R31/67
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 赵潇君
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种多接口开短路测试电路及装置,该电路包括第一连接器,第二连接器及显示模组;第一连接器分别用于与移动产业处理器接口及待测电路板的第一接口连接,显示模组用于通过第二连接器与待测电路板的第二接口连接;第一连接器用于接收所述移动产业处理器接口发送的显示数据信号,并将显示数据信号依次通过第一接口、第二接口及第二连接器传输至显示模组,通过检测显示数据信号是否能依次通过第一连接器、第一接口、第二接口传输至显示模组,即通过判断显示模组是否出现黑屏现象以准确测量出检测第一接口与第二接口之间是否出现焊接异常情况,利于产线员工对待测电路板的测量判断,无需再设置多个LED灯珠,节约测试成本,提升检测效率。
搜索关键词: 接口 短路 测试 电路 装置
【主权项】:
暂无信息
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