[发明专利]电子集成化单机自动化测试系统、方法及介质在审
| 申请号： | 201911268115.8 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111123000A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 宋文磊;陆一波;王文龙;孙奎;刘海记;王要磊 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/01 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电子集成化单机自动化测试系统，其特征在于，包括：程控电源模块：提供电源；CPCI工控机通用测试模块：实现PCI协议；总线接口模块：将各模块与总线进行连接；信号负载模块：为单机提供模拟量输出；信号转接模块：为单机提供遥控指令信号接口；单机调试模块：对单机进行调试；嵌入式计算机模块：实现并检测单机指令的状态，将不符合设定的指令显示在示波器上。本发明测试功能集成度高，通用性强，测试自动化程度高，极大提高测试效率，本发明可提供256路温度量、模拟量输出并可自动化切换，每一路可通过多个继电器对模拟量、温度量切换输出，并且相互自检不会形成干扰，有效节约了设备成本，降低了产品规模。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 集成化 单机 自动化 测试 系统 方法 介质 | ||
【主权项】：
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