[发明专利]一种介质谐振器弱负耦合结构及其应用在审
| 申请号： | 201911268039.0 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN110808439A | 公开（公告）日： | 2020-02-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡辉;梁宇栋;刘中华;吕家泉 | 申请（专利权）人： | 江苏亨鑫科技有限公司 |
| 主分类号： | H01P1/20 | 分类号： | H01P1/20;H01P7/10 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 杜丹盛 |
| 地址： | 214222 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种介质谐振器弱负耦合结构及其应用，其可有效解决负耦合的问题，并可避免谐振峰的影响，且减弱寄生耦合，具有更加对称的频率响应特性；其包括至少两个相连接的介质谐振器，在所述介质谐振器之间的连接处设有耦合结构，所述耦合结构包括隔槽、负耦合阶梯孔槽，所述隔槽开设于所述介质谐振器之间的所述连接处，所述隔槽自所述连接处的一侧伸入，沿着所述介质谐振器之间的中心连线的垂直方向延伸至所述连接处的另一侧，且与所述连接处另一侧侧壁之间留有间距，所述负耦合阶梯孔槽设置于所述隔槽与所述连接处另一侧侧壁之间，所述负耦合阶梯孔槽自所述连接处上表面向下延伸，且与所述连接处底面之间留有间距。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 介质 谐振器 耦合 结构 及其 应用 | ||
【主权项】：
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