[发明专利]一种斜面多点微力测高系统在审

专利信息
申请号: 201911259357.0 申请日: 2019-12-10
公开(公告)号: CN110926938A 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 刘健 申请(专利权)人: 深圳市磐石测控仪器有限公司
主分类号: G01N3/06 分类号: G01N3/06;G01B21/08
代理公司: 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 代理人: 陈世洪
地址: 518000 广东省深圳市坪山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种斜面多点微力测高系统,涉及测高系统技术领域。包括力量传感器、测试针、位移传感器、直线传动机构、移动平台以及采集器,直线传动机构包括电机,电机的输出轴固定设置有丝杆,丝杆上设置有力量传感器,力量传感器的底部固定设置有测试针,直线传动机构的一侧设置有移动平台,直线传动机构的顶部固定设置有采集器,丝杆的表面通过活动块活动设置有位移传感器。该斜面多点微力测高系统,可以适用单点测高,斜面多点测高,平面多点测高,测量力量参数时同时测量高度,单个位置多状态高度,比如5g,100g,低成本,高精度,高效率,测试产品力量特性时直接测试,只需加入2个校准步骤,无额外成本及时间占用。
搜索关键词: 一种 斜面 多点 测高 系统
【主权项】:
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