[发明专利]运算放大器的测试电路、测试方法以及测试装置有效
| 申请号： | 201911253375.8 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN113030689B | 公开（公告）日： | 2023-08-22 |
| 发明（设计）人： | 王鸿儒 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 李镇江 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种运算放大器的测试电路、测试方法以及测试装置，测试电路包括第一测试模块、第二测试模块和处理模块，当分别在第一测试模块和第二测试模块施加不同的第一测试电压和第二测试电压时，第一测试模块和第二测试模块分别向处理模块提供不同的第一输出电压和第二输出电压，处理模块根据第一测试电压和第二测试电压的变化量以及第一输出电压和第二输出电压的变化量可得到被测运算放大器的差模输入电阻，可以提高测试精度和测试速度，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 运算放大器 测试 电路 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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