[发明专利]IIC接口时序的参数测试方法及测试装置在审
| 申请号： | 201911253347.6 | 申请日： | 2019-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN113032190A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张羽海 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 李镇江 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IIC接口时序的参数测试方法及测试装置，测试方法包括：用上位机发送参数配置命令；用可编辑逻辑门阵列模块通过IIC接口发送对应参数配置命令的IIC协议；用待测模块对IIC协议进行响应，并根据响应结果产生应答信号或非应答信号；用可编辑逻辑门阵列模块通过串口发送对应应答信号或非应答信号的数字信号；用上位机根据数字信号判断响应结果；当响应结果表示响应成功时，用上位机记录参数配置命令，对参数配置命令进行逻辑运算，并发送下一次的参数配置命令；当响应结果表示响应不成功时，用上位机根据记录的参数配置命令获得IIC接口时序的参数的极限值。可以实现IIC接口时序的自动测试，提高测试效率和测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | iic 接口 时序 参数 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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