[发明专利]内存参数调试方法及装置有效
| 申请号： | 201911244452.3 | 申请日： | 2019-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN110928736B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 何明 | 申请（专利权）人： | 迈普通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 徐彦圣 |
| 地址： | 610041 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种内存参数调试方法及装置，针对每一个待测试的K值，根据预存的各字节的DQS引脚和CK引脚的走线长度，获得该K值下每个字节的内存驱动参数。进而对内存控制器进行内存读写测试，获取在该K值对应的内存驱动参数下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率，最后根据各待测试的K值下内存控制器的最大工作频率与最小工作频率确定出工作性能最优的K值；该K值所对应内存驱动参数即为内存控制器的内存驱动参数。由于K值实际受PCB板材、走线铜厚、走线线宽、过孔和温度环境等多重因素的影响，因此通过上述方式得到的内存驱动参数，可以充分考量实际环境下各内存驱动参数的优劣，从而得到工作性能优良的内存驱动参数。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 参数 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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