[发明专利]频率特性测试仪在审
申请号: | 201911242471.2 | 申请日: | 2019-12-06 |
公开(公告)号: | CN111308194A | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 张明伯;石浪;杨贵明;黄文昌 | 申请(专利权)人: | 百科荣创(北京)科技发展有限公司 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 北京市鼎立东审知识产权代理有限公司 11751 | 代理人: | 陈佳妹;贾满意 |
地址: | 100195 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种频率特性测试仪,包括上位机、FPGA控制模块、传输模块、AD采集模块和DA转换模块,上位机配置有点频信号产生模块、频率特性分析模块,点频信号产生模块通过MATLAB生成点频信号,频率特性分析模块接收FPGA模块的数据并通过MATLAB进行频率特性分析,FPGA控制模块实现各模块的通信协议和数据的缓存,传输模块,被配置为频率特性分析模块和FPGA控制模块之间的数据传输通道,AD采集模块,被配置为将模拟信号转换为数字信号,DA转换模块,被配置为将数字信号转换为模拟信号。本公开的频率特性测试仪可以实现对数据的高速处理与分析,而且可以直观地观察波形,便于对数据结果分析。 | ||
搜索关键词: | 频率特性 测试仪 | ||
【主权项】:
暂无信息
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