[发明专利]用于直流套管密封圈模拟测试的装置及方法有效
| 申请号： | 201911191524.2 | 申请日： | 2019-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN111060308B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 吴超;程涣超;汤浩;张书琦;遇心如;关键昕;赵晓林;李熙宁;赵志刚;王健一;刘雪丽;汪可;孙建涛;赵晓宇;徐征宇;吕晓露;王琳;杨帆;梁宁川 | 申请（专利权）人： | 中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网北京市电力公司 |
| 主分类号： | G01M13/005 | 分类号： | G01M13/005;G01B21/02 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 姜丽楼 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了一种用于直流套管密封圈模拟测试的装置，包括：套管，其上端开设有插孔，插孔的内侧壁上卡设有密封圈；导电杆，穿设在插孔内，并与密封圈接触；驱动单元，设置在插孔的正上方，与导电杆连接，以驱动导电杆沿插孔的中轴线方向、在插孔内往复运动；加热棒，其插设在导电杆内，加热棒用于调节导电杆的温度。通过设置套管、导电杆和驱动单元，通过驱动单元带动导电杆在套管上的插孔内往复运动，通过设置在导电杆内部的加热棒调节导电杆的工作温度，从而能够更加真实地模拟出套管、导电杆以及密封圈的实际运行工况，使得模拟测试结果更加客观真实，能够更加准确的反映出密封圈老化速率，从而能够准确的获知密封圈的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 直流 套管 密封圈 模拟 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网北京市电力公司，未经中国电力科学研究院有限公司;国家电网有限公司;国网北京市电力公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911191524.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
