[发明专利]一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质有效

专利信息
申请号: 201911164484.2 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN111025046B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 陈红涛;曹文天;杨巍;邹毅军 申请(专利权)人: 上海科梁信息科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G05B19/042
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 200233 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例涉及自动化测试领域,公开了一种测试系统、控制矩阵开关的方法及存储介质。本发明中的测试系统,包括:控制模块、仿真模块和配线管理模块,多个待测设备与配线管理模块中各自对应的矩阵开关电气连接;控制模块用于构建指定的待测设备所对应的矩阵开关的矩阵构型,将矩阵构型发送至配线管理模块;配线管理模块用于根据接收的矩阵构型,开启指定的待测设备所对应的矩阵开关,以使指定的待测设备与仿真模块电气连接;仿真模块用于为指定的待测设备提供测试信号,采集指定的待测设备产生的反馈数据;根据反馈数据,确定指定的待测设备的检测数据。本实施方式,使得可以灵活对待测设备进行测试,提高测试效率。
搜索关键词: 一种 测试 系统 控制 矩阵 开关 方法 存储 介质
【主权项】:
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