[发明专利]一种基于动态污点分析的内存分析方法及装置有效

专利信息
申请号: 201911152291.5 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN110941552B 公开(公告)日: 2023-07-07
发明(设计)人: 田志宏;孙起;鲁辉;黄冬秋;杨佳庚;金成杰;何陆潇涵;张鑫国;孙彦斌;苏申 申请(专利权)人: 广州大学
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 郭浩辉;麦小婵
地址: 510006 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于动态污点分析的内存分析方法、装置、终端设备及可读存储介质,所述方法包括:将预设的输入函数指定为污染源,以将所述输入函数读入的数据标记为污染,并通过一个set对象记录被污染的地址;对所有的内存操作指令插桩以进行内存操作检查,并根据源操作数的污染情况对目的操作数进行标记处理;对ret指令插桩以进行栈顶内存检查,并根据当前栈顶内存的污染情况进行栈溢出检测。本发明能够在无源码的情况下分析程序,检测内存溢出问题,从而提取生成漏洞利用所需的关键信息。
搜索关键词: 一种 基于 动态 污点 分析 内存 方法 装置
【主权项】:
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