[发明专利]一种用于电子设备测试的冷却和加热装置及其控制方法有效
| 申请号： | 201911136910.1 | 申请日： | 2019-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN111426891B | 公开（公告）日： | 2022-08-12 |
| 发明（设计）人： | 刘文杰;吴永庆 | 申请（专利权）人： | 杭州大和热磁电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G05D23/19;H05K7/20 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310053 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于电子设备测试的冷却和加热装置，包括支撑板，所述支撑板固定有工作板和半导体制冷器，所述工作板上放置有电子测试元件，所述半导体制冷器连接有控制模块，所述控制模块连接有温度传感器，所述温度传感器靠近电子测试元件设置，半导体制冷器紧贴工作板，对工作板进行加热或冷却，支撑板设有风扇，所述风扇对半导体制冷器进行散热。本发明能够同时对电子元件进行加热和冷却，换热效果好，冷却和加热能力强，同时本发明能够对电子测试元件进行循环冷却和加热，可以很好的模拟实际工作温度的变化情况，使对电子设备的测试更加准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子设备 测试 冷却 加热 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
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