[发明专利]一种基于传感器阵列的磁异常检测方法有效
| 申请号： | 201911125951.0 | 申请日： | 2019-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN110967774B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 冯永强;陈路昭;朱万华;纪奕才;方广有 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01V3/38 | 分类号： | G01V3/38;G01V3/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴梦圆 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于传感器阵列的磁异常检测方法于，包括：步骤S1：数据预处理，利用经验模态分解去除测量传感器与参考传感器的差量磁场中的地磁背景趋势项；步骤S2：信号调制，对预处理后的差量磁场进行调制，实现数据融合；步骤S3：对调制后的差量磁场进行时频分析与量化，实现目标磁异常的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 传感器 阵列 异常 检测 方法 | ||
【主权项】：
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