[发明专利]一种二阶非线性光学测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 201911113165.9 | 申请日： | 2019-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN110940644A | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 李丙轩;张戈;廖文斌;黄凌雄;陈玮冬;林长浪 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/55 | 分类号： | G01N21/55 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人： | 校丽丽 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以预设角度小于90°向待测样品发射入射光，待测样品经入射光照射后产生反射光，该反射光为入射光的倍频光，然后利用检测单元接收反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测样品表面的二阶非线性光学信息。本发明适用于测试对激光有较强吸收的样品，本发明激光以预设角度入射待测样品，激光仅在待测样品的表面产生反射，避免了待测样品对激光的吸收；另外，本发明激光可以以小于90°的不同入射角入射待测样品，测试不同入射角的反射光信号强度，得到不同入射角待测样品的表面二阶非线性光学信息，测量结果更加可靠，方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非线性 光学 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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