[发明专利]成像方法、装置及图像处理设备

摘要

本申请提供一种成像方法、装置及图像处理设备。所述方法应用于光子计数型计算机断层扫描系统，所述方法包括：在被扫描物体扫描结束后，获取光子计数探测器输出的实测光子计数序列，利用光子计数模型和所述实测光子计数序列，确定所述被扫描物体的目标物质分布参数，所述光子计数模型的构建模型包括以下至少一种：电荷共享模型、能量分辨率模型、脉冲堆叠模型，从而消除了光子计数探测器存在的电荷共享、能谱分辨率和脉冲堆叠中的至少一种现象对物质分布参数的大小产生的影响，保证了所得的物质分布参数的准确性，根据目标物质分布参数进行成像，消除了能谱畸变和计数损失导致的伪影，提高了成像质量。