[发明专利]热辐射性能原位检测系统及方法在审
| 申请号： | 201911076228.8 | 申请日： | 2019-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN110672655A | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 潘阳阳;刘刚;徐骏;兰少飞;曹康丽;周博;苏京;李瑜婧 | 申请（专利权）人： | 上海卫星装备研究所 |
| 主分类号： | G01N25/00 | 分类号： | G01N25/00;G01N21/27;G01N21/55 |
| 代理公司： | 31334 上海段和段律师事务所 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及热辐射性能测量技术领域内的一种热辐射性能原位检测系统，包括光源模块、光源标定模块、控制模块、样品室以及数据处理模块；光源模块，提供待测样品进行辐照实验与热辐射性能检测所需的光源；光源标定模块，用于待测样品与参考标准在同等条件下的热辐射性能参数的比对；样品室，对待测样品进行性能测试以及数据采集；控制模块包括运动控制单元与数据采集控制单元；数据处理模块，获取数据采集控制单元采集到的热辐射性能检测数据并通过处理软件处理，获得待测样品的法向半球反射率。本发明还提供了一种热辐射性能原位检测方法。本发明能真实的测量空间环境模拟对样品的热辐射性能的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 热辐射 待测样品 数据处理模块 光源标定 光源模块 控制模块 性能检测 样品室 数据采集控制单元 采集控制单元 原位检测系统 运动控制单元 半球反射率 参考标准 测量空间 处理软件 辐照实验 环境模拟 获取数据 数据采集 同等条件 性能参数 性能测量 性能测试 原位检测 比对 法向 光源 采集 | ||
【主权项】：
1.一种热辐射性能原位检测系统，其特征在于，包括光源模块、光源标定模块、控制模块、样品室以及数据处理模块；/n所述光源模块，提供待测样品进行辐照实验与热辐射性能检测所需的光源；/n所述光源标定模块，用于待测样品与参考标准在同等条件下的热辐射性能参数的比对；/n所述样品室，包括样品架、运动机构以及检测采集单元，所述样品室对待测样品进行性能测试以及数据采集；/n所述控制模块包括运动控制单元与数据采集控制单元，所述运动控制单元能够控制所述运动机构对待测样品进行转移，所述数据采集控制单元控制检测采集单元对待测样品热辐射性能检测的数据进行采集；/n所述数据处理模块，获取所述数据采集控制单元采集到的热辐射性能检测数据并通过处理软件处理，获得待测样品的法向半球反射率。/n
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